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Oberflächencharakterisierung

Rasterkraftmikroskop - AFM - Nano Wizard 4

  • Anwendung: Messung von Oberflächenmerkmalen bis hin zur atomaren Auflösung
  • Verschiedene Messmodi verfügbar (weiteres dazu auf der AFM-Seite)

Profilometer Form Talysurf Laser Series 2 - AMETEK Taylor Hobson

  • Anwendung: Messung von geometrischen Oberflächenmerkmalen (Form, Welligkeit, Rauheit)
  • Messmethode: taktil
  • Messbereich - 2D: x = 120 mm, z = ± 3 mm bzw. ± 6 mm
  • Messbereich - 3D: x = 120 mm, y = 100 mm, z = ± 3 mm bzw. ± 6 mm

Weißlichtinterferenzmikroskop Talysurf CCI HD - AMETEK Taylor Hobson

  • Messmethode: optisch / Weißlicht-Interferometrie (Vertical Scanning Interferometry)
  • Messbereich: x = 100 mm y = 80 mm, z = 2,2 mm

3D-CNC-Multisensor-Koordinatenmessgerät ScopeCheck 200 - Werth Messtechnik

  • Messmethode: optisch (Bildverarbeitungssensor) oder taktil
  • Messbereich: x = 200 mm, y = 150 mm, z = 150 mm
  • Beleuchtung: Durchlicht, Auflicht-Hellfeld, Auflicht-Dunkelfeld

CCD-Laser-Wegmesssensor - Keyence LK-G10

  • Anwendung: Messung von Schichtdicken
  • Messmethode: Laser-Triangulation (1D)
  • Messbereich: +/- 1 mm
  • Hohe Präzision: +/- 0,02 %
  • Referenzabstand: 10 mm
  • Lichtpunktgröße: D=20 µm
  • Lichtquelle: 650 nm / Laser Klasse 1 / 0,3 mW
  • Abtastgeschwindigkeit: 50 kHz

Konfokales Digitalmikroskop - Keyence VHX

  • Vergrößerung: 100x bis 2500x (5000x)
  • Beleuchtung: Auflicht-Hellfeld- und Auflicht-Dunkelfeld
  • Objektiv: Long Distance

Polarisationsmikroskop - JENAPOL - Carl Zeiss Jena

  • großes Forschungspolarisationsmikroskop
  • alle Polarisationsverfahren im Auf- und Durchlicht
  • differentieller Interferenzkontrast
  • positiver und negativer Phasenkontrast
  • Interferenzkontrast mit totalem Bildshearing
  • Durchlicht Hell- und Dunkelfeld für alle Objektive
  • Auflicht Hellfeld mit Berekprisma oder Planglas
  • Long Distance Ausrüstung für Polarisation und Interferenz dicker Proben
  • 2-Achsentisch
  • Senarmont und Ehringhauskompensatoren
  • Fotoausgang mit digitaler Fotoausrüstung, 3000 x 2000 Bildpunkte

Stereomikroskop - MOTIC DMO 456

  • Weitfeld-Okular W10x/20mm
  • Zoom-Objektiv 1x bis 4x, 1:4-Verhältnis
  • Auflicht- und Durchlicht-Halogenbeleuchtung
  • Bild-, Bildsequenz- und Video-Aufnahmen (Kamera 2 MP), USB-Anschluß
  • Auswertung durch Messung im Bild (Abstände, Formelemente, Zählen)
Atomic Force Microscope

Rasterkraftmikroskop

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